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　　項目簡介

　　電感耦合等離子體(ICP)是用于原子發射光譜和質譜的主要光源，以ICP為中心，在周圍安裝多個檢測單元(每一元素配一個檢測單元),形成了多元素分析系統。用它做激發光源具有檢出限低、線性范圍廣、電離和化學干擾少、準q度和精密度高等優點。

　　ICP-AES利用的是原子發射光譜進行定性定量分析;ICP-MS利用的是離子質譜，采用質荷比不同而進行分離檢測。兩者可分析的元素基本一致，不過由于分析檢測系統的差異，兩者的檢測限有差異：ICP-MS的檢測限很低，可以達到ug/L(ppb)的水平;而ICP-AES一般是mg/L(ppm)的級別。不過ICP-MS只能分析固體溶解量為0.2%左右的溶液(因此經常需要稀釋)，而ICP-AES則可以分析固體溶解量超過20%的溶液。

　　結果展示

　　常見問題

　　1. ICP-AES與ICP-MS的測試范圍為多少?

　　AES可以測試10ppm到20%，MS可以100ppb到ppm，10ppm的建議用MS;

　　2. ICP儀器理論能夠測試的元素有70多種，實際能夠測試全部的這些70多種元素嗎?

　　理論上ICP可以測試70多種元素，但實際操作中,每臺ICP配置的配件是不一樣的，很難測試70多種全部元素。下圖為我們能夠測試的元素列表：

　　3.全元素分析包含哪些?

　　全元素分析適用于定性未知樣品中的元素及半定量相應元素的含量，全元素分析使用混標法全掃測試。全元素分析讀出的數據覆蓋多個波段范圍，推斷外標中所有待測元素濃度，利于樣品中元素的定性篩查、快速定量。包含但不限于HJ 776-2015中32種元素的測定。

　　4.為什么粉末樣品所測元素含量相對理論含量偏低?

　　一，需要測試方自行分析哪些環節的不當操作，可能會導致數據偏差較大，比如取樣不均勻、消解方法的選取是否合適、稀釋倍數是否過大;

　　二，應該自行分析一下樣品的情況，樣品是否存在不均勻的問題、是否存在易吸潮、易失水、易氧化等導致樣品物理化學性質變化的因素;

　　對于固體樣品經常測出來結果偏低，是因為樣品吸潮或未干燥，導致質量分數整體偏低;另外ICP測試前處理十分關鍵;測得含量偏低主要由于樣品比較難消解，可能有部分未溶解，導致實際待測溶液中金屬元素含量較實際粉體含量偏低。

　　5.為什么需要消解后的待測樣品中不能含有機物、固體雜質、F離子等?

　　含有有機物以及固體雜質會導致堵塞儀器進樣管，造成儀器故障，損害儀器;且會造成測試誤差;含有F離子，堿性物質等會腐蝕儀器內部部件，造成儀器故障，損害儀器。