妻公激情の日本|日日夜夜狠狠操|日韩成人黄色|国产亚洲精品久久久久的角色

　　項目簡介

　　透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM)，是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏，膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡。

　　常見項目

　　場發射透射電鏡(TEM)、場發射透射電鏡--現場測試/遠程視頻

　　結果展示

　　普通形貌

　　高分辨形貌

　　選取電子衍射SAED

　　常見問題

　　1. TEM制樣方法分類?

　　粉末樣品：直接用分散劑超聲分散滴在載網上進行觀察;或進行樹脂包埋，超薄切片后，轉移銅網上進行制樣;

　　復型技術：常用復型材料為非晶碳膜和各種塑料薄膜，對樣品沒有損壞;

　　化學減薄/雙噴減薄：對于大部分金屬樣品，可以進行化學減薄或雙噴減薄;

　　離子減薄：對于陶瓷或金屬合金合物，無法電解腐蝕，只能用離子減薄;

　　聚焦離子束FIB：與電解雙噴和離子減薄相比，可通過SEM在線觀察下進行定點制樣，獲得更高質量的TEM樣品;

　　2. TEM制樣時載網的分類，如何選擇?

　　載網由金屬網、支持膜和導電膜組成。

　　金屬裸網材質有銅、鎳、鉬、金、鋁等;銅網較為常見，如果能譜分析銅元素時，則應該選擇其他材質載網;

　　支持膜包括：

　　(1)方華膜(聚乙烯醇縮甲醛)：純有機膜，導電性差，電子束下不耐高溫或發生電荷積累而產生樣品漂移，多用于低電壓電鏡或生物樣品;

　　(2)碳支持膜：方華膜和碳膜組成，最為常用，碳膜的存在增加了導熱和導電性，但由于碳顆粒本身的襯度問題，在觀察樣品高分辨形貌時則不合適;

　　(3)微柵膜：在碳支持膜上制作些微孔，解決了高分辨觀察樣品時的背底襯度問題;

　　(4)超薄碳膜：使用微柵膜時，棒狀或片材可搭載在孔邊緣，但納米級顆粒由于尺寸小于微柵孔，無法搭載，但是碳支持膜襯度又差，在微柵膜上再增加一層超薄碳膜，可使納米顆粒負載在超薄碳膜上的同時也提高了圖像襯度;

　　(5)純碳膜：部分分散劑(氯仿等)會溶解方華膜，則可去除方華膜，即為純碳膜;

　　3. 磁性樣品都有什么?

　　(1)含鐵(Fe)、鈷(Co)、鎳(Ni)、釓(Gd)等鐵磁性元素的氧化物、金屬、尖晶石等;

　　(2)釹鐵硼(NdFeB)/釤鈷(SmCo)等稀土永磁材料;

　　(3)釤(Sm)、鐠(Pr)、釹(Nd)、鏑(Dy)、鋱(Tb)等稀土元素的磁性助劑。